[중고] PXIe-1073 + PXIE-6555 + PXI-4132 + PXI-2527 + PXI-4072 National Instruments > 기타

PXIe-1073 + NI PXIE-6555 + NI PXI-4132 + NI PXI-2527 + NI PXI-4072 

PXIe, 5-슬롯 (3개 하이브리드 슬롯, 2개 PXI Express 슬롯), 최대 250 MB/s PXI 섀시

—PXIe-1073은 다양한 테스트 및 측정 어플리케이션에 사용하도록 설계되었으며, 통합 MXI-Express 컨트롤러를 제공합니다.

이 섀시는 크기가 작고 견고하며 조용히 작동하므로 휴대용 시스템과 데스크탑 시스템에 모두 이상적입니다. 

200 MHz, 24-채널, 온보드 PPMU, PXI 디지털 웨이브폼 계측기

—PXIe‑6555는 24개의 단일 종단 디지털 핀과의 인터페이스, 특성화 및 DC 파라미터 테스트를 수행하기 위한 디지털 웨이브폼 생성기 및 분석기입니다.

이 디바이스는 최대 200 MHz 속도로 디지털 웨이브폼을 샘플링하고 사용자 프로그래밍 가능한 전압 레벨과 인터페이스할 수 있습니다.

PXIe-6555는 비트 에러 테스트를 위한 하드웨어 비교, DC 전압 및 전류 파라미터 측정, 핀별 고급 디지털 타이밍 기능도 갖추고 있습니다. 

±100V, ±100mA DC, 2W DC, 10pA 정밀 PXI 소스 측정 유닛

—PXI-4132는 프로그램 가능한 고정밀 소스 측정 유닛 (SMU)입니다.

PXI-4132에는 절연된 단일 SMU 채널이 있어 4-쿼드런트 출력을 제공하며 리모트(4-와이어) 센스 및 외부 가딩을 통합합니다.

PXI-4132는 높은 측정 분해능과 통합된 가딩을 특징으로 하여 통합된 회로, 이산 요소, PCB 및 케이블에 대해 고정밀 누출 측정을 수행할 때 적합합니다.

또한 온보드 하드웨어 시퀀싱 엔진을 사용하여 다이오드 및 OLED와 같은 다양한 구성요소에 대한 고속 I-V 측정을 수행할 수 있습니다.

게다가, PXI 백플레인을 통해 여러 대의 PXI-4132 SMU를 동기화하여 트랜지스터를 비롯하여 더욱 복잡한 디바이스에 대한 고속 I-V 측정을 수행할 수 있습니다. 

32-채널, 300 V, 2-와이어 PXI 멀티플렉서 스위치 모듈

—PXI‑2527은 중간 채널 수 및 높은 채널 수를 갖춘 자동화 테스트 어플리케이션에 이상적인 고전압 PXI 멀티플렉서 스위치 모듈입니다.

고전력 전자기계 릴레이를 갖추고 있는 PXI‑2527은 PXI DMM 모듈에 적합한 완벽한 프런트 엔드로, 다양한 측정을 수행할 수 있도록 간단한 채널 확장 기능을 제공합니다.

PXI‑2527은 64x1 1‑와이어, 32x1 2‑와이어, 16x1 4‑와이어 등의 다채널 설정을 지원합니다.

이 모듈은 릴레이 모니터링을 위한 온보드 릴레이 개수 추적 기능과 테스트 스루풋을 향상시키는 하드웨어 트리거를 통한 결정성 있는 작동도 지원합니다. 

6½-digit, ±300 V, 온보드 1.8 MS/s 절연 디지타이저, L 및 C 측정 지원, PXI 디지털 멀티미터

—PXI‑4072는 일반 테스트 계측기인 고분해능 DMM과 디지타이저의 측정 기능을 제공하는 고성능 6½‑digit, 300 V DMM입니다.

PXI‑4072는 DMM으로서 빠르고 정확한 AC/DC 전압, AC/DC 전류, 2 또는 4 와이어 저항, 주파수/기간/기본 L 및 C 측정 뿐만 아니라 다이오드 테스트도 가능합니다.

고전압 절연 디지타이저 모드에서 PXI‑4072는 최대 1.8 MS/s의 샘플링 속도로 웨이브폼을 수집할 수 있습니다. 

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